电压和频率对微弧氧化钛膜层厚度的研究
时间:2022-03-04 09:41:55 浏览次数:次
材料[3,4]。鉴于目前对微弧氧化电参数对钛材膜层厚度的影响鲜有报道,本文将研究电参数中电压和频率的影响。
2 实验部分
2.1 材料与设备
工业纯钛TA2,砂纸,乙酸钙,β-甘油磷酸钠;ED300型涡流测厚仪,PHILIPS XL-30E扫描电子显微镜,PN-Ⅲ微弧氧化电源。
2.2 试样制备与表征
将纯钛加工成15mm×10mm×2mm的片状试样,依次经过400目,600目,800目,1000目,1200目砂纸打磨,无水乙醇、丙酮和去离子水超声清洗。在0.2mol/L乙酸钙、0.02mol/Lβ-甘油磷酸钠配置成电解液中进行恒压模式下的微弧氧化。使用涡流测厚仪测量膜层厚度;电子显微镜观察截面形貌。
3 结果分析
3.1 电压对膜层厚度的影响
占空比、脉冲频率和处理时间固定在15%、1000Hz以及30s,试样分别在250V、300V、350V、400V和450V电压下进行微弧氧化,膜厚及截面形貌如图1所示。
从(a)可知,随着电压的升高,膜厚由250V的1.2µm逐渐增大到450V的11.8µm,增大趋势明显。电压的增加,单脉冲的放电能量以及氧化膜层中电场强度增加,导致钛离子和氧离子在放电通道中的转移速度增加,使成膜速率增加,膜层增厚[5]。从(b)可知,处理后试样TiO2膜层较为致密,靠近基体一侧会存在一些孔洞,其直径在1~5µm之间,这就是膜层与基体间的过渡层,即多孔层,而这一特点将增大细胞的附着面积以及硬骨组织的孔内生长。
3.2 频率对膜厚的影响
脉冲频率就是单位时间内脉冲震荡的次数。占空比和处理时间与上述一致,电压固定位350V,试样分别在200Hz、600Hz、1000Hz、1400Hz、1800Hz下微弧氧化。图2是膜厚与频率的关系,可知随着频率的增加,膜厚从原来200Hz的5.3µm降低到1800Hz时的4.1µm,整体减小,但幅度不大。这是因为膜层的生长速率主要由脉冲的放电能量决定,占空比固定时,增大频率使单脉冲的放电时间缩短(即脉宽减小),导致能量减小,成膜速率降低。
4 结语
恒压模式下,固定占空比和处理时间,分别以电压和频率作为变量,膜厚随着电压的增大明显增加,随频率的升高而稍有下降。总体来说,电压的影响效果比频率大。
参考文献:
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